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CMS® CADPlug

当设计师在处理微系统组件设计时,会面临诸多如外框图形、复杂器件图形和微带结构、多层腔体结构等设计时,需要通过手动反复进行导入和导出并确认设计发生正确的变更,该过程需要人工反复的数据的交互和检查,费时费力容易出错。微波系统快速设计CADPlug工具提供了从CAD图形快速切入到CAE设计环境的一键图形处理优化设计工具,包括数据快速导入导出模块、层面的同步显示模块、集成菜单模块、数据检查与报告模块、增强

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GEMS

GEMS是一个高性能的电磁仿真软件包,它提供电磁仿真软件,以及软件与带优化网络系统的硬件组合方案,或者说,是一个完备的电脑系统。在同样的硬件平台上,GEMS占用的内存远少于其他电磁仿真软件,但其速度却快得多。GEMS使用的区域分解模型能够大幅提高预处理的速度。   了解更多>

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Power IC Spice Model

通过高速周期性(high-speed cycle-by-cycle)的仿真来展示真实的大信号性能,采用精确建模技术进行电流模式控制仿真;进行CCM和DCM转换器仿真;分析控制系统的环路增益,输入滤波器的设计和分析;对所有主要器件进行功率损耗测量和电应力分析。总之,通过建模和仿真您可以对整个电源系统进行完整的模拟。 主要特点 分析大信号产生的影响,例如启动瞬态、功率级半导体承载应力和负载阶跃响应。

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CMS® Schematic Audit

当工程师接到复杂电子电路的设计任务时,进行高质量、高效率设计迭代已逐渐成为研发过程的关键环节,传统设计迭代和审查完全依赖人员的检查,工作量非常大,并且很多小细节很容易被忽视对产品高品质的交付造成影响。 CMS® Schematic Audit 电路原理图自动化检查分析软件,针对电路原理图设计中经常出现的细节问题,结合企业设计经验,进行自动审查。 CMS® Schematic Audit 电路原理图

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BGA/CSP 芯片级植球机

BGA/CSP chip level ball mounting machine MBA-1000 针对 BGA 芯片的批量生产特点,研制专用承载 台治具,一次性可同时放置 120 枚 BGA 芯片, 高性价比. 设备特征 1) 适用于 BGA/CSP 芯片批量植球,单次搭载芯片可达 120 颗; 2) 人工上下料、自动印刷/植球,设备性价比高; 3) 对应锡球直径:0.20mm-1.00mm;4

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晶圆检查分选机

Wafer Inspection and Sorter Machine 采用高性能双臂洁净机器人实现 8/12 吋晶圆分选,配置 Olympus 高倍显微镜及 CCD 视 觉系统实现晶圆正面及背面的缺陷检查。 设备特点 兼容 SEMI 标准 Foup/Open Cassette,采用旋转loadport 对应 SEMI Standard FOSB; 具备 RFID reader 和 bar-cod

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半导体设备前置模块

EFEM -Equipment Front End Module 基于 MES 系统通过 SECS/GEM 传输指令或手 动输入指令对 WAFER 进行传送和定位,兼容 多种通讯协议,与 PVD,CVD,ETCH 等设备配套; 采用高性能晶圆传送机器人,最优路径设计,实现高效传送; 与多规格制程设备配套,兼容多种通讯协议,无缝式简易连接; 集有 MES 模块的控制系统实现与工厂信息系统连接,可远程

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晶圆倒片机 Wafer Sorter

  可对应 3-12 英寸各类材质的晶圆; 可对应 Foup、FOSB、SMIF、Open Cassette; 可对应可 OHT 系统和 AGV 系统相配套; 可对应 MES 系统; 满足用户的各种应用方式(夹持、伯努利、翻转)和 14 纳米工艺需求; 除了通用的 2-8 port 产品外,可根据客户的需求定制各类型排列方式。

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全自动晶圆级微球植球机

WAFER LEVEL MICROBALL MOUNTER WMB-2000 适用于 8/12 寸晶圆,通过高精度丝网印刷和视觉 图像处理技术,微球精准对位搭载,实现 WLCSP 封装工艺。替代了传统晶圆电镀凸点制作方法, 大幅降低成本,实现了一次性搭载,具有安定化 批量生产和高搭载率的优势。 设备特征 独创丝网和台面全自动清洁机构,保证植球良率; 采用了集成有 MES 模块的控制软件,实现信息化

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